21. Characterization of microstructures by analytical electron microscopy (AEM)
پدیدآورنده : / Yonghua Rong
کتابخانه: المكتبة المركزية بجامعة تبريز و مركز التوثيق والنشر (أذربایجان الشرقیة)
موضوع : Nanostructured materials - Nondestructive testing,Electron microscopy
رده :
TA417
.
23
.
R66
2012
22. Developments in materials characterization technologies: sympsoium held 23 and 24 July 1995, during the 28th Annual Technical Meeting of the International Metallographic Society, Albuquerque, New Mexico, USA
پدیدآورنده :
موضوع : Congresses ، Materials-- Testing,Congresses ، Non-destructive testing,Congresses ، Materials-- Microscopy,Congresses ، Metallography
۲ نسخه از این کتاب در ۲ کتابخانه موجود است.
23. Developments in materials charactrization technologies: symposium held 23 and 24 July 1995, during the 28th Annual Technical Meeting of the International Metallographic Society, Albuquerque, New Mexico, USA
پدیدآورنده : edited by George F. Vaner Voort, John J. Friel
کتابخانه: (طهران)
موضوع : Materials - Testing - Congresses , Non-destructive testing - Congresses , Materials - Microscopy - Congresses
رده :
TA
410
.
D48
1996
24. Electron Microscopy and Multiscale Modeling: Proceedings of The EMMM-2007 International Conference
پدیدآورنده :
کتابخانه: مكتبة جامعة الإسلامية آزاد فرع قم (قم)
موضوع : Materials- Microscopy- Congresses,Electron microscopy- Congresses
رده :
TA
.
E426
417
.
23
2007
25. Electron Paramagnetic Resonance Spectroscopy
پدیدآورنده :
کتابخانه: كتابخانه مركزي و مركز اسناد دانشگاه مازندران (مازندران)
موضوع : Physics; Spectroscopy and Microscopy; Atomic/Molecular Structure and Spectra; Magnetism, Magnetic Materials; Crystallography and Scattering Methods; Physical Chemistry; Characterization and Evaluation of Materials
26. Electron Paramagnetic Resonance Spectroscopy
پدیدآورنده :
کتابخانه: كتابخانه مركزي و مركز اسناد دانشگاه مازندران (مازندران)
موضوع : Physics; Spectroscopy and Microscopy; Atomic/Molecular Structure and Spectra; Magnetism, Magnetic Materials; Crystallography and Scattering Methods; Physical Chemistry; Characterization and Evaluation of Materials
27. Electron backscatter diffraction in materials science
پدیدآورنده : [edited by]& Adam Schwartz, Mukul Kumar, David Field
موضوع : materials microscopy
۳ نسخه از این کتاب در ۳ کتابخانه موجود است.
28. Electron backscatter diffraction in materials science
پدیدآورنده :
کتابخانه: المكتبة المركزية ومركز الوثائق بجامعة آراك (مرکزي)
موضوع : Materials -- Microscopy,Electrons -- Backscattering,Electrons -- Diffraction,Scanning electron microscopy
رده :
620
.
11299
E38
29. Electron backscatter diffraction in materials science
پدیدآورنده :
کتابخانه: كتابخانه مركزي و مركز اسناد دانشگاه مازندران (مازندران)
موضوع : Materials ; Microscopy. ; Scanning electron microscopy. ; Crystallography. ; Elektronenbeugung. ; swd. ; Kristallographie. ; swd. ; R?ckstreuung. ; swd. ;
30. Electron backscatter diffraction in materials science
پدیدآورنده :
کتابخانه: المكتبة المركزية مركز التوثيق وتزويد المصادر العلمية (أذربایجان الشرقیة)
موضوع : Materials- Microscopy,Scanning electron microscopy,Crystallography
رده :
TA417
.
23
.
E419
2000
31. Electron beam analysis of materials
پدیدآورنده : Loretto, M. H.
کتابخانه: (طهران)
موضوع : Materials - Analysis , Electron beams - Industrial applications , Electron microscopy
رده :
TA
417
.
23
.
L67
1994
32. Electron beam analysis of materials
پدیدآورنده : / M.H. Loretto
کتابخانه: المكتبة المركزية مركز التوثيق وتزويد المصادر العلمية (أذربایجان الشرقیة)
موضوع : Materials- Analysis,Electron beams- Industrial applictions,Electron microscopy
رده :
TA417
.
23
.
L67
1994
33. Electron beam analysis of materials
پدیدآورنده : Loretto, M. H.
کتابخانه: المکتبه المرکزيه ومرکز التوثیق بجامعة الشهید باهنر فی کرمان (کرمان)
موضوع : Analysis ، Materials,Industrial applications ، Electron beams,، Electron microscopy
رده :
TA
417
.
23
.
L67
1994
34. Electron beam analysis of materials
پدیدآورنده : Loretto, M. H.
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه فردوسی مشهد (خراسان رضوی)
موضوع : Analysis ، Materials,Industrial applications ، Electron beams,، Electron microscopy
رده :
TA
417
.
23
.
L67
1994
35. Electron beam analysis of materials
پدیدآورنده :
موضوع : Materials- Analysis,Electron beams- Industrial applications,Electron microscopy
۷ نسخه از این کتاب در ۶ کتابخانه موجود است.
36. Electron microscope specimen preparation techniques in materials
پدیدآورنده : THOMPSON-RUSSELL,K C
کتابخانه: (طهران)
موضوع : ELECTRON MICROSCOPY-TECHNIQUE , MOUNTING OF MICROSCOPE SPECIMENS , MATERIALS-MICROSCOPY
رده :
QH
212
.
E4
T46
37. Electron microscopy in the study of materials
پدیدآورنده : Grundy, Philip James.
کتابخانه: المکتبه المرکزيه ومرکز التوثیق بجامعة الشهید باهنر فی کرمان (کرمان)
موضوع : ، Materials,، Electron microscopy
رده :
TA
407
.
G76
38. Electron microscopy in the study of materials
پدیدآورنده : P. J. Grundy and G. A. Jones,Title
موضوع : Materials,Electron microscopy
۳ نسخه از این کتاب در ۳ کتابخانه موجود است.
39. Electron microscopy in the study of materials
پدیدآورنده : Grundy,Philip james.
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه فردوسی مشهد (خراسان رضوی)
موضوع : ، Materials,Electron microscopy
رده :
TA
407
.
G76
40. Electron optical applications in materials science
پدیدآورنده : Murr, Lawrence Eugene
کتابخانه: كتابخانه مركزي دانشگاه صنعتي شريف (طهران)
موضوع : ، Materials-- Testing,، Electron optics,، Electron microscopy
رده :
TA
418
.
5
.
M87